可能會(huì )影響到EXF鍍層測厚儀測量結果的因素有哪些你知道么?下面讓我們來(lái)了解一下吧。
 

　　影響測量結果因素的有關(guān)說(shuō)明
 

　　1.基體金屬磁性質(zhì)
 

　　磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準;亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準。
 

　　2.基體金屬電性質(zhì)
 

　　基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準。
 

　　3.基體金屬厚度
 

　　每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。
 

　　4.邊緣效應
 

　　本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。
 

　　5.曲率
 

　　試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
 

　　6.試件的變形
 

　　測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。
 

　　7.表面粗糙度
 

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn);或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。
 

　　8.磁場(chǎng)
 

　　周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng)，會(huì )嚴重地干擾磁性法測厚工作。
 

　　9.附著(zhù)物質(zhì)
 

　　本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著(zhù)物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
 

　　10.測頭壓力
 

　　測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。
 

　　11.測頭的取向
 

　　測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。